當(dāng)前所在位置:首頁 > 產(chǎn)品/品牌中心 > 檢測/測量 > 溫濕度檢測
德國bst-procontrol傳感器IREX-RS/CW/XCMONESPLIT
厚度測量
厚度測量有許多可能性,包括傳輸方法,超聲波和紅外傳感器以及光學(xué)三角測量原理。
INDIAIR傳感器
測量系統(tǒng)由上下傳感器組成。后者是磁/渦流間隔系統(tǒng),其確定到參考板的距離,參考板又是上傳感器的一部分。兩個傳感器之間的片材影響板的*部和底部之間的距離,從而可以提供原始測量信號。
INDISPECTRO
測量基于光學(xué)層厚度與光波長的比較。入射在透明層上的光在上界面和下界面處部分反射。
INDIRAY 標(biāo)準(zhǔn)X射線傳感器<5KV /擴(kuò)展范圍
紅外反向散射傳感器IREX-RS / CW /XCMONESPLIT 相同點技術(shù)
紅外傳感器通常作為反向散射傳感器提供,具體取決于應(yīng)用,但也可以作為傳輸傳感器的結(jié)構(gòu)。CONESPLIT SameSpot技術(shù)基于**測量方法,用于直接(選擇性)在線涂層厚度測量,是BST ProControl**的賣點。
當(dāng)通過透射方法測量時,發(fā)射器和檢測器彼此相對安裝,待測材料置于其間。輻射被待測材料衰減,衰減取決于待測材料的密度,厚度和成分。
超聲波傳感器
傳感器根據(jù)脈沖回波測量方法工作,即發(fā)射超聲脈沖,由測量對象反射并再次接收。從脈沖的持續(xù)時間開始,測量物體的距離被確定為傳感器。
激光傳感器
傳感器基于三角測量方法。這里,聚焦紅外光束在待測材料上產(chǎn)生光點,其反射部分由傳感器中的PSD / CCD檢測器檢測。檢測器的檢測允許***計算到待測材料的距離。
同位素反向散射傳感器
同位素反向散射傳感器是用于基重測量的非接觸式測量方法?;谟纱郎y材料反向散射的放射性輻射部分,確定基重。
基于攝像頭的傳感器
DELTA MASTER 3傳感器使用光學(xué)三角測量原理??梢酝ㄟ^將精細(xì)的測量線投射到材料上并通過幾何超穩(wěn)定的矩陣CCD相機(jī)進(jìn)行檢測來測量表面。測量數(shù)據(jù)的評估基于數(shù)字圖像處理的方法。
SHADEX傳感器
非接觸式測量原理基于線性扇出激光束的***定義。產(chǎn)品的厚度導(dǎo)致測量范圍內(nèi)的陰影,并且對接收二*管有成比例的影響。距離測量系統(tǒng)補(bǔ)償傳感器和參考輥之間的距離變化,由此在特殊信號處理方法中評估值,并且可以***地確定材料厚度。
PC16S 波
發(fā)射傳感器PC16S -wave措施的基礎(chǔ)重量或厚度flachbahniger材料,并使用用于非接觸測量過程非電離,電磁波。這使其成為***和快速測量聚合物基單膜的理想選擇。與基于電離輻射的傳感器相比,該傳感器***了運輸,操作和處置所需的國家或國際法規(guī)要求。
涂層厚度測量
在涂層厚度測量領(lǐng)域,除紅外傳感器和傳輸傳感器外,BST-ProControl還提供光學(xué)層厚度與光波長的比較。
密度測量
此外,在密度測量領(lǐng)域,非接觸式測量方法和用于直接(選擇性)在線涂層厚度測量的**方法也是合適的
資料下載
視頻介紹